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    艾思荔高低溫試驗(yàn)箱品牌

    產(chǎn)品型號(hào): HL-80CH
    品  牌: 艾思荔
    • 1-2 臺(tái)
      ¥59900.00
    • ≧3 臺(tái)
      ¥48900.00
    優(yōu)  惠:
    【滿就減】訂單金額滿1000元,減10
    所 在 地: 廣東東莞
    更新日期: 2024-08-22
    詳細(xì)信息

    溫馨提示:
    本產(chǎn)品報(bào)價(jià)為參考價(jià)格,僅作支持網(wǎng)上展示用途。
    產(chǎn)品具體規(guī)格、價(jià)格以我司銷售溝通報(bào)價(jià)為主。

      艾思荔高低溫試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無(wú)反作用把手,操作簡(jiǎn)便。外箱采用SUS304#霧面線條處理不銹鋼板,內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS#304鏡面鋼板。外形設(shè)計(jì)美觀,各零部件安裝位置合理,靜電噴涂顏色能滿足客戶實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。


      高低溫試驗(yàn)箱規(guī)格:

      內(nèi)尺寸:50×60×55㎝(W*D*H)╳2內(nèi)容積:165L*2臺(tái)

      外尺寸:115×158×184㎝(W*D*H)

      溫度范圍:-70℃~+150℃(氣冷式)

      濕度范圍:10%~98%RH

      降溫速率:20℃~-70℃/85min(空載下)

      升溫速率:20℃~+150℃/45min(空載下)

      發(fā)熱負(fù)載:250W.(40℃,90%RH)

      溫度穩(wěn)定度:±0.2℃

      濕度穩(wěn)定度:±2%

      高低溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

      1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

      2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;

      3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;

      4、國(guó)標(biāo)GJB150.3-86;

      5、國(guó)標(biāo)GJB150.4-86;

      6、國(guó)標(biāo)GJB150.5-86;

      7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

      8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

      9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。

      10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式

      11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式

      12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

      10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

      11、GB/T2423.22-2002溫度變化

      12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,

      13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))

      高低溫試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍:

      高低溫試驗(yàn)箱又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動(dòng)高低溫試驗(yàn)箱,用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

      為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境,縮短測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試費(fèi)用,但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

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