高低溫老化試驗箱尺寸技術(shù)參數(shù)：
　　1、溫度范圍：(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)～+150℃
　　2、濕度范圍：20～98%RH
　　3、溫度均勻度≤±2.0℃
　　4、溫度波動度≤±0.5℃
　　5、濕度波動:+2-3%RH
　　6、降溫速率：0.7℃～1℃(空載狀態(tài)下)
　　7、升溫速率：1～3℃(空載狀態(tài)下) 　　高低溫老化試驗箱尺寸 溫濕度范圍：
　　降壓時間:≤45min(常壓～0.5kPa)
　　降溫速率:0.7～1.0℃/min
　　溫度均勻度:±2℃(常壓，空載)
　　溫度波動度:±0.5℃(常壓，空載)
　　壓力偏差:常壓～40Kp：±1.8Kpa;40Kp～4Kpa：±4.5%;4Kp～0.5KPa：±0.1Kpa
　　溫度范圍:A:-20℃～150℃B:-40℃～150℃C:-60℃～150℃D:-70℃～150℃
　　溫度偏差:±3℃(常壓，空載)
　　升溫速率:1.0～3.0℃/min
　　壓力范圍:常壓～0.5kPa
　　《 所發(fā)布的各款試驗設(shè)備 價錢 僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際 價錢 以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準 》
　　高低溫老化試驗箱尺寸 標準：
　　GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
　　GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
　　GB10592-2006技術(shù)條件
　　GB/T2423.3-1993試驗Ca:恒定濕熱試驗
　　GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
　　GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
　　GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
　　艾思荔高低溫老化試驗箱尺寸 又名電路板高低溫老化箱，適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性。高低溫老化箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
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