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    ASLI半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱

    產(chǎn)品型號: HL-80C
    品  牌: ASLI
    限時特價
    • 1-2 臺
      ¥48780
      ¥54200.00
    • ≧3 臺
      ¥44010
      ¥48900.00
    所 在 地: 廣東東莞
    更新日期: 2024-08-17
    詳細信息
    溫馨提示:
    本產(chǎn)品報價為參考價格,僅作支持網(wǎng)上展示用途。
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    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱
    ,控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示,具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量,每段時間設(shè)定大值為99小時59分,資料及試驗條件輸入后,控制器具有熒屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機,具有RS-232或RS-485通訊界面,可在電腦上設(shè)計程式,監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關(guān)機、數(shù)據(jù)等功能控制器。

    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱技術(shù)指標
          工作室尺寸(mm)  外箱尺寸mm)
    HL-80     400*500*400     950*1650*950
    HL-150    500*600*500    1050*1750*1050
    HL-225    600*750*500    1200*1900*1150
    HL-408    600*800*850    1200*1950*1350
    HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450
    HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450
    溫度范圍:A型:25℃~150℃;B型:0℃~150℃;C型:-20℃~150℃;D型:-40℃~150℃;E型:-60℃~150℃;F型:-70℃~150℃ 
    溫度范圍:-40℃~+80℃
    升溫時間:-40℃~+80℃≤20分鐘;
    降溫時間:+80℃~-40℃≤20分鐘;
    溫度波動度:≤±0.5℃
    溫度偏差:≤±2℃
    以上性能指標是在設(shè)備周圍環(huán)境溫度為25℃±5℃,空載條件下測的數(shù)據(jù)。
    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱控制系統(tǒng):
    ◆溫濕度顯示控制儀表采用熒幕操作簡單,無須按鍵輸入,精度:0.1℃(顯示范圍),解析度:±0.1℃;
    ◆風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
    ◆升溫、降溫、系統(tǒng)完全獨立可提高 效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
    ◆整體設(shè)備超溫;整體設(shè)備欠相/逆相;整體設(shè)備過載;制冷機組超壓;整體設(shè)備定時;
    ◆其它還有漏電、運行指示,故障報警后自動停機等保護。
    ◆具有熒屏自動屏保功能,在運轉(zhuǎn)或設(shè)定中,如發(fā)生錯誤時,會提供警示迅號。
    ◆制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
    ◆干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進口原裝件
    ◆冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
    ◆采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱特點:
    1、試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計先進合理,制造工藝規(guī)范,外觀美觀、大方,維護保養(yǎng)方便。
    2、零部件的配套與組裝匹配性好,主要功能元器件均采用具有國際先進水平的原裝進口件,提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性,能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
    3、設(shè)備正常運行所需的附帶條件已有配備,買方只需提供動力電力和滿足要求的工作環(huán)境即可。
    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱標準
    1、GB10592.2-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件
    2、GB11158-1989高溫試驗箱技術(shù)條件
    3GB105589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件
    4、GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)試驗A低溫試驗方法
    5、GB/T2423.2-2001(IEC68-2-2)試驗B高溫試驗方法
    6、GJB150.3-1986高溫試驗
    7、GJB150.4-1986低溫試驗
    8、GB2423.22溫度變化試驗方法
    半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱介紹
       艾思荔半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 又名高低溫循環(huán)試驗箱,采用計算機技術(shù)、先進的PID控制方法對環(huán)境溫度、濕度進行測量和控制,并可以與恒溫恒濕設(shè)備配套使用。半導(dǎo)體器件高低溫試驗箱是根據(jù)國家相關(guān)標準設(shè)計制造,廣泛適用于航空、航天、軍工、艦船、電工、電子及材料等行業(yè)的產(chǎn)品整機及零部件的高低溫試驗及溫度快速變化試驗。以便對試品的性能和品質(zhì)作出評價。
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