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    ASLI HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱

    產(chǎn)品型號(hào): HAST-35
    品  牌: ASLI
    限時(shí)特價(jià)
    • 1-2 臺(tái)
      ¥179100
      ¥199000.00
    • ≧3 臺(tái)
      ¥142200
      ¥158000.00
    所 在 地: 廣東東莞
    更新日期: 2024-08-17
    詳細(xì)信息
    溫馨提示:
    網(wǎng)上只是展示價(jià)格,由于每家客戶測(cè)試條件不一樣,所以產(chǎn)品價(jià)格也不一樣,實(shí)際成交價(jià)格,以業(yè)務(wù)溝通報(bào)價(jià)為準(zhǔn)。本公司簽單需要線下簽合同下單,線上只支持定金支付,支付金額由本公司和客戶商量確定。
                             艾思荔檢測(cè)儀器

    艾思荔HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負(fù)壓表;時(shí)間控制器采LED顯示器;自動(dòng)水位控制器,水位不足時(shí)提供警示。HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
    HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù):
    內(nèi)箱尺寸(cm):Φ25×D35   Φ30×D45  Φ40×D55  Φ50×D60
    控制系統(tǒng):微電腦飽和蒸氣濕度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器
    溫度范圍:100℃-132℃可任意設(shè)定(143℃為特殊訂制)
    濕度范圍:100%RH飽和蒸氣濕度
    使用蒸氣壓力:0.0kg/㎝²-4.00kg/㎝²絕對(duì)壓力;(對(duì)壓力:安全壓力容量4kg/㎝²/G=1個(gè)環(huán)境大氣壓+3kg/㎝²)
    解析度:溫度:0.1壓力;指針式0.1
    控制穩(wěn)定度:溫度:±0.5℃,濕度:100%
    內(nèi)箱材質(zhì):SUS316#不銹鋼
    外箱材質(zhì):高級(jí)鋼板烤漆
    循環(huán)方式:水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)
    配件:不銹鋼置物架二層(或按客戶要求定制)
    電源:AC220V,50/60HZ&1¢,AC380V,50/60HZ&3¢

    HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱安全保護(hù)裝置:
    1、感溫器檢測(cè)保護(hù);
    2、一階段高溫保護(hù);
    3、一階段高壓保護(hù);
    4、箱門壓力限制;
    5水箱缺水報(bào)警斷電;
    6、溫度加熱器保護(hù);
    7濕度加濕器保護(hù);
    8、二階段高溫保護(hù);
    9、二階段高壓保護(hù);
    10、三階段緊急泄壓保護(hù);
    11、手動(dòng)泄壓保護(hù);自動(dòng)泄壓等.
    HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)優(yōu)勢(shì):
        以前的溫度測(cè)驗(yàn)都是通過溫濕度的飽和,蒸汽壓表計(jì)算的過程而計(jì)算出來準(zhǔn)確性不足,現(xiàn)采用的是技術(shù),在溫度、濕度、壓力是真正讀取相關(guān)感測(cè)器的數(shù)值來顯示的、實(shí)驗(yàn)過程的。采用干燥的設(shè)計(jì)在實(shí)驗(yàn)過程中才用點(diǎn)熱干燥設(shè)計(jì),來確保測(cè)試區(qū)或者是待測(cè)品的干燥,來確保穩(wěn)定性質(zhì)。精準(zhǔn)的壓力/溫度對(duì)照顯示,完全符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。

    HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱儀器用途:
        HAST非飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱,適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦�,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間.
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