艾思荔pct老化實驗箱( /QQ:---)采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負壓表;時間控制器采LED顯示器;自動水位控制器,水位不足時提供警示。圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。

　　pct老化實驗箱技術參數(shù)性能： www.ledgdwsyx.com

　　1、型號PTC-25、內箱尺寸∮250×450D(mm)：

　　2、型號PTC-35、內箱尺寸∮350×500D(mm)：

　　3、溫度范圍：RT+10℃—132℃

　　4、濕度范圍：100%R。H

　　5、壓力范圍：0.0kg/㎝2～2.8kg/㎝2(相對壓力，鍋內壓力)，絕對壓力=1.0kg/㎝2+0.0kg/㎝2～3.0kg/㎝2(安全壓力容量為4kg/㎝2=1個大氣壓+3kg/㎝2)

　　6、溫度分布精度：±1.5℃

　　7。溫度控制精度：±0.5℃

　　8、溫度解析精度：0.1℃

　　9、加壓時間：0.0kg/㎝2～2.0kg/㎝2約30分鐘

　　10、內箱材質：采用SUS304耐寒耐熱不銹鋼板

　　11、外箱材質：采用SECC優(yōu)質鋼板，靜電噴塑處理。

　　12、具備異常故障訊號警示功能

　　13、內箱尺寸Φ250×D450Φ300×D450Φ400×D450

　　14、溫度范圍100℃——132℃

　　15、濕度范圍100%RH飽和蒸氣

　　16、壓力范圍環(huán)境大氣壓+0——2.5kg/cm2環(huán)境大氣壓+0——2.5kg/cm2環(huán)境大氣壓+0——2.5kg/cm2

　　17、循環(huán)方式水蒸氣自然對流循環(huán)
 

　　pct老化實驗箱控制系統(tǒng) www.asli168.com

　　1、微電腦+PID+SSR自動演算控制飽和蒸汽溫度

　　2、LED溫度顯示控制器

　　3、精密壓力顯示表

　　4、鉑金電阻溫度感應器

　　5、絕緣耐壓型溫度加溫電熱器

　　6、馬達驅動磁性風扇機構，水蒸汽自然對流循環(huán)，可保證溫濕度分布的均勻穩(wěn)定性

　　7、符合標準：ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、CNS、ISO、JIS、MIL等

　　pct老化實驗箱產品特色： www.ledlrcjyx.com

　　1、具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動補水

　　2、試驗過程自動運轉至完成結束，使用簡便。

　　3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示。

　　4、定時器：LED數(shù)字型定時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。

　　5、精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。

　　6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到***佳蒸氣品質。

　　7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

　　8、內經拋光處理經久耐用美觀不沾污。

　　pct老化實驗箱產品特點： www.tjhjsyx.com

　　1、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于2、常壓時測試們會被反壓保護。

　　3、內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命。

　　4、臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

　　5、選配訂做：可訂做非標尺寸的箱體;可選購編程控制系統(tǒng)。

　　pct老化實驗箱箱體結構及安全裝置： www.gdwsys.com

　　1、圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴水結露現(xiàn)象，可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

　　2、安全程序自動停機，自動泄壓，自動破真空，自動給水，每次加水可持續(xù)運行100小時(可根據(jù)客戶要求訂制，也可做成全自動補水系統(tǒng))。

　　3、采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動鎖定控制系統(tǒng)，圓型測試槽與安全門環(huán)扣結構設計，當內箱壓力越大時，反壓會迫使安全門與箱體更加緊密之結合，故內箱壓力必須小于正常壓力時，測試門才能被打開，因此而保證了操作人員的安全。

　　4、真空系統(tǒng)保證實驗中箱內空氣的純凈度(實驗前系統(tǒng)可將箱內空氣抽出，并將其過濾為新空氣)

　　pct老化實驗箱用途：

　　pct老化實驗箱又稱為高壓加速老化試驗機，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥等行業(yè)相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

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