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ASLI通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備
| 產(chǎn)品型號： |
PCT-35 |
| 品 牌： |
ASLI |
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| 所 在 地： |
廣東東莞 |
| 更新日期： |
2024-08-17 |
溫馨提示：
本產(chǎn)品報(bào)價(jià)為參考價(jià)格，僅作支持網(wǎng)上展示用途。
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艾思荔通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無泄露。整機(jī)配備超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，在***大程度上保證用戶的使用和安全。反壓門鎖裝置，在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門無法打開。
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備控制系統(tǒng)：
1、采用臺灣臺儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體）。
2、時(shí)間控制器采LED顯示器。
3、采用指針顯示壓力表。
4、微電腦P。I。D自動演算控制飽和蒸氣溫度。
5、手動入水閥（自動補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)）。
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備性能：
1、設(shè)定溫度：+100℃～+132℃(飽和蒸氣溫度)
2、濕度范圍：100%蒸氣濕度
3、使用壓力：1。5Kg～3。2Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓4Kg/cm2)（絕對壓力）
4、時(shí)間范圍：000Hr～999Hr
5、加壓時(shí)間：0。00Kg～1。04Kg/cm2約45分
6、溫度波動均勻度：±0。5℃
7、溫度顯示精度：0。1℃
8、壓力波動均勻度：±0。2Kg
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備機(jī)械結(jié)構(gòu)：
1、圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
2、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。
4、專利型packing設(shè)計(jì)使門與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命。
5、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備附配文件：
1、系統(tǒng)全新保證書,保固書
2、采用臺灣臺儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體）。
3、時(shí)間控制器采LED顯示器。
4、采用指針顯示壓力表。
5、微電腦P。I。D自動演算控制飽和蒸氣溫度。
6、手動入水閥（自動補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)）。
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備材質(zhì)：
1、試驗(yàn)箱尺寸：∮300mmxL500mm,圓型試驗(yàn)箱
2、全機(jī)外尺寸：以實(shí)際為主(W*D*H)立式
3、內(nèi)桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)（SUS#3163mm）
4、外桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)（SUS#3161mm））
5、保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫
6、蒸汽發(fā)室加熱管：鰭片散熱管形無縫鋼管電熱器（表面鍍鉑，防腐蝕）
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備安全保護(hù)：
1、進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無泄露。
2、整機(jī)配備超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，在***大程度上保證用戶的使用和安全。
3、反壓門鎖裝置，在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門無法打開。
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備用途：
通標(biāo)PCT高壓加速老化測試設(shè)備使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
