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ASLI圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱
| 產(chǎn)品型號： |
hast-35 |
| 品 牌： |
ASLI |
-
1-2 臺(tái)
￥198000
￥220000.00
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-
≧3 臺(tái)
￥189000
￥210000.00
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| 所 在 地： |
廣東東莞 |
| 更新日期： |
2024-08-17 |
溫馨提示：
本產(chǎn)品報(bào)價(jià)為參考價(jià)格，僅作支持網(wǎng)上展示用途。
產(chǎn)品具體規(guī)格、價(jià)格以我司銷售報(bào)價(jià)為主。
圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量。
圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1．圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
2．實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1micorn）。以確保箱內(nèi)之純凈度。
3．臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。
4．Jing密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
5．專利型packing，箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)：
1. 采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，試驗(yàn)箱由位于前部的保溫箱體（承壓結(jié)構(gòu)）、位于后部的制冷、真空機(jī)組和位于試驗(yàn)箱大門上的電器控制器（系統(tǒng)）組成
2. 電器控制面板置于試驗(yàn)箱的正面大門上便于運(yùn)行操作
3. 制冷機(jī)組及真空機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)箱內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于設(shè)備的安裝和維護(hù)
4. 為了降低制冷真空機(jī)組運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的噪音，在機(jī)箱內(nèi)壁安裝有用于吸音、隔音的特種海綿吸音材料，主要的運(yùn)動(dòng)部件均采取了防振降噪措施
圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護(hù)地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動(dòng)范圍：（50±0.5）Hz
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω
主營產(chǎn)品:圖像感應(yīng)集成芯片hast老化試驗(yàn)箱，高壓加速老化試驗(yàn)箱-鹽霧試驗(yàn)箱-高低溫試驗(yàn)箱-高溫恒溫試驗(yàn)箱-紫外老化試驗(yàn)箱-氙燈老化試驗(yàn)箱-臭氧老化試驗(yàn)箱-恒溫恒濕試驗(yàn)箱-換氣式老化試驗(yàn)箱-砂塵試驗(yàn)箱-箱式淋雨試驗(yàn)箱-冷熱沖擊試驗(yàn)箱-振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)-高溫試驗(yàn)箱-低溫試驗(yàn)箱-恒溫試驗(yàn)箱-跌落試驗(yàn)臺(tái)-三綜合試驗(yàn)箱-二氧化硫腐蝕試驗(yàn)。
