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ASLI復疊式hast老化試驗箱
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復疊式hast老化試驗箱用途:
適用于國防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,相關之產(chǎn)品作加速壽命試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間. 復疊式hast老化試驗箱技術優(yōu)勢:
1.采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷.
2.試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽
壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
3.干燥設計,試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。
4.壓力/溫度對照顯示,完全符合溫濕度壓力對照表要求。
復疊式hast老化試驗箱性能:
1.測試環(huán)境條件4.2.測試方法環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、
2.溫度范圍105℃→+132℃.(控制點)
3.溫度波動度±0.5℃.
4.溫度偏差±2.0℃.
5.濕度范圍75%~100%R.H.(控制點)
6.濕度波動度±2.5%R.H.
7.濕度均勻度±5.0%.
8.壓力范圍0.5~2㎏/㎝2(0.05~0.196MPa)(控制點)
9.升溫時間常溫→+132℃35min. -
留 言
- 聯(lián)系人:朱先生
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- 手 機:13826953619
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