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    IC高低溫老化試驗(yàn)箱

    產(chǎn)品型號: HL-80
    品  牌: ASLI/艾思荔
      價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格
    優(yōu)  惠:
    【滿就減】訂單金額滿1000元,減10
    所 在 地: 廣東東莞
    更新日期: 2024-08-22
    詳細(xì)信息
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格:
    型號:HL-80DH  
    內(nèi)箱尺寸:100*100*150cm  
    溫度范圍:A:-20℃~150℃B:-40℃~150℃C:-60℃~150℃D:-70℃~150℃  
    濕度范圍:20~98%R.H(可定制)  
    波動(dòng)/均勻度:±0.5℃/±2℃  
    濕度偏差:+2、-3%R.H  
    升溫速率:1.0~3.0℃/min(可定制)  
    降溫速率:2.0℃/min(可定制)  
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)  
    《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》

    IC高低溫老化試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。  
    箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。  
    補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部,并有缺水自動(dòng)保護(hù),更便利操作者補(bǔ)充水源。  
    大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。  
    加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開,可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障,提高性。  
    水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門式開啟,方便維護(hù)和檢修。  
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。  
    箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說明)  
    機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪  
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):  
    進(jìn)口數(shù)顯觸摸按鍵,P.I.D微電腦S.S.R溫度控制器(日本OYO儀表);  
    外置式鍋爐蒸汽式加濕器具有節(jié)能降耗功能,可節(jié)約70%能耗  
    電器控制主件采用進(jìn)口“施耐德”及“梅蘭日蘭”元件,更好地控制溫度;  
    保溫系統(tǒng)采用超細(xì)玻璃纖維填充保溫區(qū),內(nèi)外膽連接部位采用非金屬耐高、低溫材料,有效降低溫度傳導(dǎo)  
    具有自動(dòng)演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為jīngquè穩(wěn)定。  
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品概述:  
    IC高低溫老化試驗(yàn)箱適用于產(chǎn)品、資訊電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。  
    成都高溫高濕,山東雙85實(shí)驗(yàn)箱,熱循環(huán)試驗(yàn),可靠性老化測試?yán)鋬黾帮L(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)  
    制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。  
    冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。  
    采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。  
    風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。  
    升溫、降溫、加濕系統(tǒng)完全可提,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。  
    符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2008GB/T2423.2-2008GB/T2423.3-2006
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