歡迎光臨
手機(jī)網(wǎng)站 | 聯(lián)系我們:0769-22851841 | 加入收藏
  • 當(dāng)前位置:廣東艾思荔檢測儀器有限公司 > 產(chǎn)品中心 > pct老化試驗(yàn)機(jī) > 艾思荔半導(dǎo)體pct-35老化試驗(yàn)機(jī)

    艾思荔半導(dǎo)體pct-35老化試驗(yàn)機(jī)

    產(chǎn)品型號: PCT-35
    品  牌: 艾思荔
    • 1-2 臺
      ¥64600.00
    • ≧3 臺
      ¥53600.00
    所 在 地: 廣東東莞
    更新日期: 2024-08-17
    詳細(xì)信息
       所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備 價錢 僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價,實(shí)際 價錢 以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)
      半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠商 針對的試驗(yàn)說明:
      用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),暴露出封裝中的弱點(diǎn),如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗(yàn)用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計(jì)的更新。應(yīng)該注意,在該試驗(yàn)中會出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,可能會出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式。
      外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處、、等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流、、等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。

      半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠商 產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
      控制方式:微電腦控制
      內(nèi)箱尺寸:(mm)Φ240×D440
      時間控制:LED顯示器
      加壓時間:0.00Kg~1.04Kgcm2約45分鐘內(nèi)
      壓力范圍:0~2.5Kg/cm²;(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓3.5Kg/cm2)
      壓力波動:±0.02Kg
      測試條件:溫度121℃,100%R.H飽和蒸氣壓力1.04Kgcm2,
      立式,終尺寸請以實(shí)物為準(zhǔn)
      時間范圍:000Hr~999Hr
      半導(dǎo)體pct老化試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠商 滿足標(biāo)準(zhǔn):
      1、IEC60068-2-66
      2、JESD22-A102-B
      3、EIAJED4701
      4、EIA/JESD22
      5、GB/T2423、40-1997
  • 留言
    標(biāo)  題: *(必填)
    內(nèi)  容: *(必填)
    聯(lián)系人:
    郵  箱:
    手  機(jī):
    固  話:
    *(必填)
    公  司: *(必填)
    地  址: *(必填)