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ASLI電子芯片IC測試高低溫交變實驗箱
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艾思荔檢測儀器有限公司生產(chǎn)的高低溫老化測試箱驗收及可滿足標(biāo)準(zhǔn):GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A:低溫試驗方法、GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B:高溫試驗方法、GB2423.3-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法。高低溫老化測試箱性能指標(biāo):
1.溫度范圍: A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~130℃ D:-60℃~130℃
2.濕度范圍:20~98% R.H
3.波動/均勻度:≤±0.5℃ /±2℃
4.溫度偏差:+2%、-3%R.H
5.升溫時間:2℃~3℃/min (空載)
6.降溫時間:0.7℃~1℃/min (空載)
高低溫老化測試箱度范圍 :
A型: 0℃~+100℃(+150℃)
B型: -20℃~+100℃(+150℃)
C型: -40℃~+100℃(+150℃)
D型: -70℃~+100℃(+150℃)
高低溫老化測試箱度控制系統(tǒng):
1.控制器: 進(jìn)口“TEMI880”微電腦溫度集成控制器(溫度直接顯示百分?jǐn)?shù))
2.精度范圍:溫度±0.1℃
3.溫度傳感器:鉑金電阻 PT100Ω
4.加熱系統(tǒng):鎳鉻合金電加熱式加熱器
5.制冷系統(tǒng):全封閉風(fēng)冷單級壓縮制冷/原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷
6.循環(huán)系統(tǒng):耐高溫低噪音離心式電機,多葉式離心風(fēng)輪
高低溫老化測試箱箱體材質(zhì):
1.外箱材質(zhì): 優(yōu)質(zhì)A3鋼板,表面磷化靜電噴塑
2.內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)2B級光板
3.保溫材質(zhì):超薄超細(xì)玻璃纖維
4.門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
高低溫老化測試箱用途:
高低溫老化測試箱又名電路板高低溫老化箱,用于工業(yè)產(chǎn)品高低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標(biāo)。
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